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Triple---3D光学扫瞄系统

Triple---3D光学扫瞄系统

非接触式量测系统,结合独特的SIDIO技术制造之光学量测探头与光学标记定位系统(MML),能够快速取得完整点群资料,且省去黏贴定位标签步骤。...

公司名称: 研华宝元数控股份有限公司

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